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故障解析・良品解析 >> 電子機器・電子部品モジュールの故障解析 >> 改善策検証・再発防止策立案

改善策の検証・再発防止策の立案

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 改善策の検証/ 再発防止策の立案

故障原因を踏まえ、改善方法のご提案や対策内容の妥当性を検証します。 同じような故障が他の機器や新規開発機器で起きないか、再発防止の観点から事前検証を行います。

事例1:保護回路の動作・マージン評価


保護回路の動作検証

  • 故障原因が保護回路の誤動作の場合、改善策として、保護回路が動作する開始点の変更や動作速度の変更、保護回路自体の削除など、様々な対策が検討されます。
  • 対策品の誤動作自体は抑えられますが、量産品に対する効果検証、保護回路の変更による弊害の有無確認の必要があります。
  • 当社では、回路図を元に保護回路が動作する条件を作り、保護回路動作時の挙動確認から保護回路変更による弊害を検証します。限界評価を組み合わせることで、誤動作に対するマージン検証も行います。

 

事例2:部品のディレーティング評価


部品のディレーティング評価

  • 故障原因がダイオードやトランジスタ、FET、ICなどの半導体の使用方法の間違いにあった場合、改善策として、アブソーバやスナバ回路などの周辺回路の変更や電源回路の変更、使用部品の変更など、様々な対応策が検討されます。
  • 当社では、これらの変更によって、本当に改善効果があるのか、環境温度や周辺回路の部品バラツキも検討し、部品の絶対最大定格値を越える恐れがないか検証を行います。 
  • また、サーモグラフィーや熱電対による温度測定だけでなく、回路動作を踏まえた電解コンデンサのリップル電流測定も行い、寿命予測値を算出して電解コンデンサの短寿命要因を検証します。