耐候性試験よくあるご質問
耐候性試験よくあるご質問
特にお問い合わせの多い耐候性試験。お寄せいただくよくあるご質問をまとめました。
※試験規格につきましては試験設備のページをご覧ください。
- Q: 促進耐候性試験とはどんな試験ですか？
- Q: サンシャインウェザーメーター／キセノンウェザーメーター 試験時間の換算は？
- Q: 使用環境が主に屋内である場合の試験条件は？
- Q: 電子部品・機器で不具合を検出した例がありますか？
- Q: どんな試験が対応可能ですか？
Q: 促進耐候性試験とはどんな試験ですか？
屋外での使用では、太陽光による紫外線や降雨など屋内より厳しい環境にさらされます。この環境を単純に屋外暴露試験により行う場合、結果が出るまで長い時間がかかります。
太陽光・温度・湿度など屋内外の条件を人工的に再現し、製品や材料の劣化を促進させ短時間に評価することが可能な試験です。
Q: サンシャインウェザーメーター／キセノンウェザーメーター 試験時間の換算は？
まず、日本の場合、太陽光の平均1年間の放射露光量は4500MJ/m2、そのうち、物質の劣化に主として関与する紫外線（300〜400nm）はおよそ6.8％（306MJ/m）になります。
紫外線に当たる波長300〜400nmを、1年相当306MJ/m2照射することを、弊社保有の所有設備の光源を用い再現する場合、試験時間は下記のようになります。
|
光源 |
紫外線領域(300-400nm)の放射照度W/m2 |
1年間の放射露光量に対応する時間（h） |
|---|---|---|
|
太陽光 屋外暴露 |
0～60 |
8,760（24h × 365 日） |
|
カーボンアーク |
78.5 |
1,083 |
|
キセノンランプ |
180.0 |
472 |
※サンシャインウェザーメーター：光源 カーボンアーク
キセノンウェザーメーター ：光源 キセノンランプ
ただし、この時間はあくまで紫外線の波長域だけを考慮しています。実際には光以外の劣化要因である降雨、湿度、結露、ガスなどの要因が与える試験材料への影響（反応）を把握し、温度・湿度・結露・降雨（水量・水質）の制御を行います。
Q: 使用環境が主に屋内である場合の試験条件は？
窓ガラスを通した太陽光は短波長側の波長が遮断されることが知られています。キセノンウェザーメータを用いた試験ではキセノンランプに用いるガラスフィルタを組み合わせることで屋内外の太陽光の分光放射照度分布を正確に再現できます。
Q: 電子部品・機器で不具合を検出した例がありますか？
太陽光はプラスチックや樹脂にみられる色などの外観変化や分子構造に変化をもたらします。例えば、タブレット端末、スマートフォンのディスプレイ部品の評価にて次のような不具合が発生しました。
スマートフォン
遮光した部分と遮光していない露出部分で、表示画面の色の違いが発生（変色）しました。
写真上半分がアルミで遮光した部分
タブレット端末
ディスプレイとタッチパネルの貼り合わせに使用している接着剤中に、気泡が発生しました。
見えない気泡が耐候性試験により顕在化
Q: どんな試験が対応可能ですか？
促進耐候性試験（サンシャインウェザーメーター試験 光源：カーボンアーク）
- 歴史も長く、一般的な試験方法です。カーボンアーク放電時に発生する紫外線照射により、加速評価を行います。
- 試験装置性能
- 放射照度：
- 255W/m2 （300～700nm, 紫外線+可視光）
- 78.5W/m2 （300～400nm, 紫外線領域）
- ブラックパネル温度： 63℃,83℃,95℃ （湿度制御有）
- 降雨純水スプレー： 水噴霧の有り／無し、および噴霧時間についても指定可能
- 試料寸法： 150 × 70mm 最大 68 枚
- 上記寸法を超えるものについても対応検討致しますのでお気軽にお問い合わせ下さい。
- 放射照度：
高促進耐候性試験（スーパーキセノンウェザーメーター試験 光源：キセノンランプ）
- キセノン光源は太陽光照射の試験再現性に優れています。紫外線放射照度が太陽光の約3倍のため、試験時間の短縮や試験コスト削減に有利です。
- 試験装置性能
- 放射照度： 60～180W/m2 （300～400nm, 紫外線領域）
- ブラックパネル温度： 50℃～95℃ （湿度制御有り）
- 降雨純水スプレー： 水噴霧の有り／無し、および噴霧時間についても指定可能
- 試料寸法： 150×70mm 最大51枚
- 上記寸法を超えるものについても対応検討致しますのでお気軽にお問い合わせ下さい。
