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規制化学物質の含有可能性見極め

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 製品、モジュールの丸ごと分析

複雑な電子機器の分析もお任せ。
製品やモジュール部品を分解、専門家が含有可能性を適切に判断し分析致します。

 

複雑な電子機器の分析もお任せください!

IEC 62321 Part 2 (サンプリングガイドライン)に従って、製品やモジュール部品を分解、専門家が含有可能性を適切に判断し分析。
リーズナブルな価格で安心をお届けします。

  • 当社のノウハウは IEC 62321 に盛り込まれています。
  • 分析結果については、その限界と目的を踏まえてアドバイスいたします。
  • 必要に応じてお客様に代わり、販売先・納入先へ分析結果をご説明いたします。

 

 

分析、検証手順


  1. 複雑なユニット品をIEC規格に従って分解いたします。
  2. 各部品や部位の素材を推定し、含有可能性の高い部位をリストアップ。
  3. 蛍光X線によるスクリーニング分析を実施。
  4. 化学分析による定量分析を実施。

ユニット品の検証分析例(内蔵型CD-ROM)

各構成部品ごとに分解

内蔵型光学ドライブを各部品ごとに分解します。

部品をさらに分解(スピンドルモータの例)

分解した部品をさらに分解

ここではスピンドルモーターを分解しています

 

プリント板ユニットの分析例(フローはんだ面)

分析、検証手順


  1. スキャン蛍光X線分析により、対象元素のマッピングを作成。
  2. 錫と鉛の共存判定によって、端子めっき中の鉛を推定。
  3. はんだ以外のリスク部を確認。
  4. 化学分析等の追加分析や、製造元への確認の要否を検討 
プリント基板光学像

プリント基板 光学像

元素マッピング結果

元素マッピング結果例

錫(赤)と鉛(緑)を表示

錫と鉛の共存部(黄)を表示。鉛を含むNGはんだを特定

錫と鉛の共存部(黄)を表示。鉛を含むNGはんだを特定