イオンクロマトグラフィ

　イオンクロマトグラフィー（IC: Ion Chromatography）
　燃焼イオンクロマトグラフィー（C-IC：Combustion-ion chromatography）

液体中の複数のイオンを数10ppbレベルの高感度で測定できるイオンクロマトグラフィー法による分析を受託致します。河川水や電子材料関係の抽出液・半導体洗浄液のイオン分析のほか、購入電子部品の汚損度（イオン残渣）調査も行い、錆防止に役立ちます。

ユーロフィンFQLは燃焼装置を組み合わせた、燃焼-イオンクロマトグラフィー（C-IC）法にも対応可能で、プラスチックや樹脂等に含まれるハロゲン(Cl/Br)含有量の分析を受託致します。

• 迅速・高感度・高精度な測定が可能（10ppbレベル）
• 少量の試料で複数のイオンを分析
• 洗浄液や抽出液の汚染調査に有効
• 臭素系難燃剤のスクリーニング分析方法としてIEC62321-3-2に規定（C-IC法）

溶離液を、低交換容量のイオン交換樹脂を充填した分離カラムで分離し、サプレッサにより導電率を下げて、導電検出器により測定します。そのピークの溶出時間から何のイオンであるかの「定性」を行ないます。
また、標準試料のピーク面積や高さを比較して「定量」を行います。迅速・高感度高精度（数10ppbレベル）を特徴としており、少量の試料で複数のイオンを定性・定量分析できます。
特に、微量無機陰イオン類やアルカリ金属・アルカリ土類金属・アンモニウムイオンに極めて有効な分離分析方法です。

河川水・雨水・純水などの水の分析、メッキ液組成の分析、電子材料関係の抽出液・半導体洗浄液のイオン分析、サーバーやPC等の設置環境判断などに用いられています。 当社では購入電子部品の汚損度（イオン残渣）調査も行っており、錆の防止に役立っています。

　燃焼ーイオンクロマトグラフィー（C-IC）

燃焼装置とICを組み合わせた燃焼-イオンクロマトグラフィー(C-IC)も受託致します。C-ICでは、プラスチックや樹脂等に含まれるハロゲン(Cl/Br)含有量の分析ができます。 特に、臭素系難燃剤のスクリーニング分析方法として、本手法はIEC62321-3-2に規定されております。

試料を燃焼炉に導入し、燃焼させることにより発生したガスを吸収液に捕集します。その後、吸収液に捕集した各種ハロゲンイオンをイオンクロマトグラフィーにて分離、定量します。これにより、水に溶けない固体サンプル中のハロゲンも測定することが可能です。

燃焼-イオンクロマトグラフィーの概念図

型格詳細

• カチオン（陽イオン）　サーモフィッシャー・サイエンティフィック製　DIONEX AQUION
• アニオン（陰イオン）　サーモフィッシャー・サイエンティフィック製　INTEGRION HPIC

　IC,C-ICの分析事例

認証標準試料のC-IC分析事例

認証標準試料のC-IC分析事例

光学系反射ミラーの表面曇り原因分析

光学系反射ミラーの表面曇り原因分析をした際、検出された無機陰イオンデータです。
高印加電圧下で発生する活性オゾンによる大気との反応で、硝酸イオンが生成し、ミスト状に付着することが原因と判明しました。

定性・定量分析結果

シリコーン樹脂に残留する塩素イオンによる電極腐食

ハイブリッドIC・プリント回路基板などの電気絶縁・防湿・防水・防塵に、常温硬化型シリコーン樹脂コーテイング材が使用されています。

クロロシランが多量に残存するシリコーン樹脂があり、これを使用すると、残存するクロロシランが加水分解して生成した塩化水素が、写真のように、電子部品の電極を腐食する障害が発生します。

電極金属の腐食の様子

表は、障害を起こしたシリコーン樹脂に含まれるイオンをイオンクロマトグラフで分析した例です（単位：ppm）。不良品からは、クロロシランに起因する塩化物イオンが検出されています。

大気環境中の塵埃には、海から飛来する塩分や凍結防止剤に含まれる塩分が含まれます。塩分は、鉄・アルミなどの構造材を腐食・劣化させるだけでなく、電子機器や電機設備の内部で絶縁不良を引き起こし、トラブルの原因となります。

イオンクロマトグラフィを用いると、塵埃中に含まれるイオン成分の定性・定量分析が可能であり、環境中にどのような塩害成分がどのくらい含まれるかを明らかにできます。 塩害トラブルの原因究明や対策の立案に、非常に有効です！

環境中の塩害成分調査

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