分析方法別サービス

各種分析方法の分類と分析サービスの内容、および使用する分析装置をご紹介します。

材料に関して何を調べたいですか？

形状を調べる

接点に異物は無いか？破断面はどうなっている？めっき膜の厚さは狙い通りか？

成分を調べる

以前のロットと現ロットで製品の組成に違いは無いか？　見つかった異物は不具合に繋がるような成分か？　不具合の原因はどんな成分で、どの部材由来だろう？

含有物質を調べる

調達品に規制対象物質は入っていないか？

所有設備

ユーロフィンＦＱＬの所有する設備は？

試料調整、写真撮影、破面解析、表面粗さ解析など
光学顕微鏡（実体、金属、レーザー）、走査電子顕微鏡（SEM）、透過型電子顕微鏡（TEM）

試料調整、各種観察など
走査電子顕微鏡（SEM）、集束イオンビーム加工観察装置（FIB-SIM）、透過型電子顕微鏡（TEM）

異物付着によって発生した剥離や製品の動作不具合。使用部品・部材の知らない間の材料変更。
成分分析は、不具合の原因調査、対策立案、障害の未然防止等、様々なケースで活用されます。

目的／装置	組成分析	変質・変色分析	異物・付着物分析	腐食物・酸化物分析	ガス分析
目的／装置	定性分析、半定量・定量分析、IRスペクトル測定・解析、MSスペクトル測定・解析、微量不純物分析など	分析箇所の写真撮影、定性分析、半定量・定量分析、結合状態分析、カラーマッピングなど	分析箇所の写真撮影、定性分析、半定量・定量分析、結合状態分析、カラーマッピングなど	分析箇所の写真撮影、定性分析、半定量・定量分析、結合状態分析、断面加工・観察、デプスプロファイル測定など	試料調整（加熱、ガス捕集など）、MSスペクトル測定・解析、定性分析、半定量分析など
X線光電子分光（XPS）	〇	〇	〇	〇	―
フーリエ変換赤外分光（FT-IR）	〇	〇	〇	―	―
ガスクロマトグラフ質量分析（GC-MS）	〇	―	―	―	〇
誘導結合プラズマ分析（ICP）	〇	―	―	―	―
オージェ電子分光（AES）	〇	〇	〇	〇	―
走査電子顕微鏡（SEM）	―	―	〇	〇	―
集束イオンビーム加工観察装置（FIB-SIM）	―	―	〇	〇	―