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ユーロフィンFQL株式会社 >> 故障解析・良品解析 >> フラッシュメモリ電気的特性確認

フラッシュメモリの電気的特性確認

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 フラッシュメモリの電気的特性確認

電気的特性試験にて不良現象を再現させるお手伝いを致します

 

フラッシュメモリが書けない!読めない!

部品不具合の他、フラッシュメモリの使い方によっては、期待した信頼性や寿命が満たせなくなってしまう場合があります。

当社では、ノートPCやデスクトップPC、ワークステーション、サーバ/ストレージに至るまで、様々な用途に合わせたフラッシュメモリの故障解析を行ってきた経験を活かした特性確認の提案を致します。

 

 

 サービスの流れ

 

お問い合わせ・ご相談

ROMライター

動作確認例

  • データが読めるか
  • 不良アドレスの特定(データが読めた場合)
  • 温度依存性の確認
  • 電源電圧依存性の確認
  • 消せるか/書けるか(状況に応じ)

 

問題の発生状況・特筆すべき点・解決したいこと等を、ご支障のない範囲でお聞かせ下さい。当社技術者が、ご相談を承りサポート内容をご提案させて頂きます。

 

一次診断


ヒアリング結果をもとに、フラッシュメモリ単体を専用ROM試験機にて動作確認を行います。

 

二次診断(加速試験後)


一次診断で不良現象が確認できなかった場合、更に深堀りした加速試験や負荷試験を行い動作確認をします。

※状況によりカスタムの試験環境が必要となります

 

診断結果のご報告


一次/二次診断結果をお客様のご希望に沿うフォーマットにてご報告致します。不具合メカニズムの考察も可能です。

 

解析事例

お預かりしたサンプルから解析方法をご提案、データ・結果をご報告いたします。

  • ループ解析で間欠不良現象を確実に捉える
  • お客様使用条件でエージングを行い、間欠的に発生する不良アドレス/ビットを抽出
  • 高温環境下での長期寿命試験(繰返し書込み限界試験)
  • データ保持特性の確認(0/1判定ではなく経時的なデータ化けの予兆を確認する)

 

 

記憶媒体に関するサービスのご紹介

フラッシュメモリに限らず、パソコンなどの品質保証活動の中で、HDD、SSD、ODD、可搬媒体に対する故障解析、評価を行った経験があります。下記に関してのお困りごとがございましたらまずはお気軽にご相談ください。

  • HDD/SSD/可搬媒体の評価/解析(信頼性評価、性能評価、発ガス影響確認、故障解析・解体分析ほか)
  • データ復旧
パンフレットはこちら