評価・解析対象別
特定分野に特化した評価、試験設備です。当社オリジナル設備を含みます。
マイグレーション 表示系（LCD他） 電源／バッテリ コネクタ／ケーブル 記憶媒体・装置
プリント基板・コネクタ他のマイグレーション試験（電蝕試験）
| イオンマイグレーション評価システム | イオンマイグレーションの連続監視による劣化性調査 印加電圧： 最大100V 絶縁抵抗測定範囲： 10E+05Ω～10E+14Ω 最大9,999時間、64ch 測定可能 |
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| 導体抵抗(AMR)システム | コネクターの接触抵抗評価など連続監視による劣化性調査 測定可能数： 120ch 抵抗測定範囲： 10uΩ～100kΩ |
| 定電流定電圧モジュール | 連続電圧印加、電流監視が必要な信頼性試験が可能 例）マイグレーション評価 電流印加による熱ストレスサイクル試験が可能 例）基板パターン評価 |
表示系（LCD／有機ELなど）
電源／バッテリ
| 鉛バッテリリチャージシステム | 鉛電池メーカ推奨の満充電判断 劣化診断機能搭載 |
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| バッテリテストシステム（充放電試験器） |
バッテリーの充放電サイクル試験等が可能です
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| 二次電池の安全性評価 外部短絡、温度 (-40～+100℃) 内部短絡（釘刺し試験）、 外圧（圧壊試験） |
コネクタ／ケーブル
| ケーブルテスタ | ケーブルの電気試験 導体試験の判定値： 約1KΩ 最小瞬断幅（瞬断試験の検出時間）： 200ns～3μs 絶縁抵抗試験の判定範囲： 10～990MΩ（試験電圧DC100～500V） 耐圧試験： AC50～600V |
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| コネクター瞬断評価システム | 接触部品等の瞬断評価 最小瞬断幅（瞬断試験の検出時間）： 500ns～100ms 測定可能数： 10ch |
記憶媒体・装置（HDD/SSDなど）
| ROM試験機 | ROMの各種特性の測定、機能検査
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| HDD/SSD試験機 | テストおよびパフォーマンス測定 ライト・リード／リードディスターブ／エンデュランス試験 データコンペア／パーテーションテーブルの状態確認 速度パフォーマンス測定、S.M.A.R.T.属性値取得 |
