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News|最新情報
日付
最新ニュース
19-6-2023
EAGの最新分析技術セミナー 【応用編】
『最先端の高感度微小領域分析』
本セミナーでは本社・EAGラボラトリーズの技術者を招いて最新分析技術をご紹介いたします。また、セミナーでは日本未発表の分析技術も予定しております。 発表プログラム(予定) スペシャルゲスト 東・海...
16-6-2023
『いまさら聞けない! GDMS分析とSIMS分析の使い分けウェビナー』開催のご案内
GDMS(Glow Discharge Mass Spectrometry:グロー放電質量分析)とSIMS(Secondary ion mass spectrometry : 二次イオン質量分析法)は...
19-4-2023
『なにができる!?TEM分析の応用ウェビナー』開催のご案内
TEM/STEM(Transmission Electron Microscope/Scanning transmission electron microscope:透過型電子顕微鏡/走査型透過型電...
18-4-2023
2023年GW期間前後の営業日について
2023年GW期間前後の営業日について.....
19-12-2022
オフィス移転のお知らせ
この度、ユーロフィンEAGは移転することとなりました。 各種お問い合わせ、郵便物等の送付先は下記新住所宛にお願いいたします。 ((旧 東京都豊島区)) 新住所 〒101-0065 東京都千代田区西神...
6-12-2022
『SMART Chart Webinar Series : GDMS(グロー放電質量分析)』開催のご案内
GDMS(Glow Discharge Mass Spectrometry:グロー放電質量分析) は微量不純物(ppm-ppb wt)の評価に適した手法で、周期表上の安定同位体を持ちガス成分を除くほと...
6-12-2022
2022年末~2023年始営業日について
年末年始の稼働状況についてお知らせいたします。 何卒、ご理解賜りますようお願い申し上げます。 2022年末:最終営業日 12月28日(水)/ 最終検体受入日 12月27日(火) 2023年始:営業開...
31-10-2022
『今更聞けない!TEM分析の基礎セミナー』開催のご案内
半導体のデバイスプロセス開発・材料開発において、高分解能透過型電子顕微鏡分析であるTEM/STEM分析(Transmission Electron Microscope/Scanning transm...
29-8-2022
『今更聞けない!半導体デバイスの信頼性評価・基礎ウェビナー』開催のご案内
弊社では昨年度に国内ラボを開設し、半導体・電子部品/電子機器の信頼性評価サービスに注力して参りました。特に半導体デバイス(半導体素子)の信頼性評価については、集積回路(IC/LSI)・CMOS/CCD...
25-7-2022
2022年夏季休業のお知らせ
2022年夏季休業のお知らせ.....
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