材料分析｜ユーロフィンEAG

半導体や高純度材料の分析に最適！「Smart CHART」なら、SIMSやGDMS等、各種手法の分析領域と検出下限の相関が一目で把握可能です。最適な手法選定から技術相談、無償セミナーの依頼まで、専門スタッフが迅速に回答いたします。

ユーロフィンEAGは半導体・高純度材料のスペシャリストです。世界最高水準のSIMS、TEM/STEM、GDMSを中心に、100種類以上の分析・試験に対応。デバイスの構造解析から材料評価、不純物特定まで開発の課題を迅速かつ正確に解決します。

TEM/STEM、FIB-SEM、3D-APT、AFMなどの先端技術で半導体の微小領域を網羅的に分析。ナノレベルの高分解能・組成分析により、デバイスの複雑な構造解析や欠陥調査を強力にサポート。

水素を含む全元素を超高感度で分析するSIMSに加え、独自技術PCOR-SIMSを展開。化合物半導体の正確な組成・不純物評価を実現します。半導体デバイスの構造解析から材料評価までトータルに支援します。

次世代半導体（GaN/SiC等）の性能を左右する結晶性評価。XRDによる格子定数・ひずみ測定、EBSDや高分解能PEDを用いた方位・粒界の可視化、TEMによる原子配列観察に対応。高度な構造解析技術で欠陥解析や研究開発を支援。

XPSやAESを駆使し、半導体ウエハーの最表面から深さ方向、有機・金属汚染まで徹底評価。元素の結合状態や結晶構造をナノレベルで解明し、歩留まり向上の鍵となる界面制御やコンタミ分析を強力に支援します。

TXRFやVPD-ICP-MSによる超高感度な金属汚染分析から、有機物・表面形状評価までワンストップで対応。KLA外観検査装置の座標データを用いた効率的なリロケーション分析により、微細欠陥の正体を迅速に特定します。

GDMS、IGA、ICP-MS/OESを駆使し、高純度半導体材料や金属、液体の微量不純物を全元素網羅。次世代デバイスの品質を左右する高度な材料評価を、圧倒的な分析精度で支援します。

半導体デバイスや電子デバイス、光デバイスパッケージ内部の「気密性評価」。高精度な微小リーク試験に加え、内部ガス分析による残留水分や不純ガスの定量を一貫して対応。故障原因の特定や歩留まり改善を、確かな分析技術で強力にサポートします。

半導体デバイス、エレクトロニクスデバイス/製品の信頼性評価・環境試験を実施いたします。国内ラボには100台以上の恒温恒湿層・温度サイクル試験層など各種試験層を多数取り揃えています。

半導体や高純度材料の分析・評価でお困りではありませんか？SIMSやTEM、GDMS等の手法選定、費用、納期のご相談から、無償技術セミナーの開催依頼まで、専門スタッフが迅速に回答いたします。些細なことでもお気軽にお問い合わせください。

お問合せから結果報告まで、弊社がスムーズにサポートします。分析目的や試料（SiC/GaN、各種材料）に合わせた最適なプランの選定、お見積り、試料送付からレポート納品までのステップを詳しく解説。初めての方も安心してご活用いただけます。

最先端のSi半導体からGaN/SiC等の化合物半導体、高純度材料の評価まで対応。専門技術資料と、解析を加速させる無償のSIMSデータ処理ソフトを公開中。エンジニアの知見が詰まった資料を研究開発や品質管理のスピードアップにお役立てください。

弊社では、Si半導体からSiC・GaN、次世代の酸化ガリウムやダイヤモンド等の化合物半導体、高純度金属まで、最新の分析知見を公開するウェビナー・セミナーを開催中。研究開発や品質管理に不可欠な専門技術を、ぜひ日々の業務にお役立てください。