ANALYSIS SERVICES｜材料分析サービス一覧
ユーロフィンEAGが提供する主要な分析サービスの一覧です。材料分析から信頼性評価まで、世界最大級のネットワークを活かした多彩なメニューを掲載。各手法の詳細や、一覧にない特殊な分析、複合的な評価についても柔軟に対応いたします。最適な解析プランをご提案しますので、まずはお気軽にお問合せください。
Advanced Microscopy
形態・組成分析
電子顕微鏡分析
故障個所の位置特定解析
- OBIRCH（オバーチ）
- Emission（EL：エミッション）
- IR（赤外顕微鏡 / 熱解析）
アトムプローブ分析
走査プローブ顕微鏡分析
- AFM / SPM（原子間力顕微鏡/走査型プローブ顕微鏡）
- sMIM（走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡）
非破壊解析
- 3D-XCT / 2D-XRAY（三次元X線CT解析 / 透過X線解析）
- C-SAM（超音波顕微鏡解析）
Enhanced SIMS
二次イオン質量分析法
Structural Analysis
構造解析
結晶性・構造解析
Surface Analysis
表面分析
表面分析
※XPS/ESCA、AESおよびTOF-SIMSは「深さ方向分析」にも対応しています。
薄膜分析
- RBS / HFS（ラザフォード後方散乱 / 水素前方散乱分析）
- XRR（X線反射率法）
- Ellipsometer（分光エリプソメータ―測定）
深さ方向分析
- LA-ICP-MS（レーザーアブレーション誘導結合プラズマ質量分析）
- SR（拡がり抵抗測定法）
有機分析
- TOF-SIMS（飛行時間型二次イオン質量分析)
- FT-IR（フーリエ変換赤外分光法）
- Raman（ラマン分光法）
- Nano-IR（ナノ赤外分光分析）
Wafer Analysis
ウエハ分析
最大300㎜対応サービス
金属汚染分析
有機汚染分析
元素分析
- XRF（蛍光X線分析）
