SEMINAR｜セミナー / ウェビナー

ユーロフィンEAGでは、半導体および高純度金属分野の研究開発・品質管理に携わる皆様を対象に、専門特化したウェビナーや技術セミナーを開催しています。

現在、Si半導体からパワーデバイスの主流であるSiC半導体・GaN（窒化ガリウム）さらに次世代を担うGa2O3（酸化ガリウム）やダイヤモンド半導体、GaAs（アルミニウムガリウム砒素）といった化合物半導体まで、最先端材料の評価に不可欠な分析知見を幅広く公開中です。

EAGの分析ナレッジが解決する技術課題

材料のポテンシャルを最大限に引き出すためには、ナノレベルでの構造制御と不純物管理が欠かせません。本プラットフォームでは、EAGが保有する膨大な分析データを基に、以下の手法の基礎から応用事例までを網羅しています。

• SIMS / PCOR-SIMS： 化合物半導体におけるドーパント分布や、pptオーダーの極微量不純物定量。

• TEM / STEM： 原子レベルの界面観察や、結晶欠陥（転位）の精密解析。

• GDMS： 5N・6Nを超える高純度金属、ターゲット材、セラミックスの全元素定量分析。

• 表面分析（XPS / AES）： 表面汚染や酸化膜の化学状態解析、微小領域の組成評価。

課題見逃したセッションも、いつでもオンラインで

「当日の都合がつかなかった」「チーム内で技術情報を共有したい」という声にお応えし、過去に開催した人気ウェビナーのアーカイブ動画視聴および発表資料のダウンロードをご用意いたしました。

基礎理論の再確認から、最新のプロセス改善に直結する事例研究まで、貴社の研究開発スピードの加速と品質管理体制の高度化にぜひお役立てください

ウェビナー：アーカイブ動画視聴 / 発表資料のダウンロード

分析装置のプロと読み解く、分析装置メーカー共同開催ウェビナー

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