Hermeticity Test｜気密性分析/密封試験サービス
サービス概要
半導体デバイスや電子デバイス、光デバイスの長期信頼性を確保するには、パッケージ内部の「気密性評価」が不可欠です。本サービスでは、高精度な微小リーク試験に加え、内部ガス分析による残留水分や不純ガスの定量を一貫して対応。故障原因の特定や歩留まり改善を、確かな分析技術で強力にサポートします。
Search >>
Search >>
