製品中のシロキサン分析

低分子環状シロキサン分析のご案内

 シリコン中の低分子環状シロキサンが電子部品に接点不良などの不具合を起こす可能性がある事から、電機, 自動車メーカー様を中心に多くのお客様よりシロキサン分析のご依頼をいただいております。

 長年の分析ノウハウと最新機器を活かしで価格、納期等お客様のご要望にお応えします。

 目的に応じて様々な分析方法に対応可能です。L2～など直鎖構造のシロキサンにも対応可能です。

測定対象

• • 環状シロキサン3～6量体（D3～D6）
  • 環状シロキサン3～10量体（D3～D10）
  • 環状シロキサン3～20量体（D3～D20）

ご検討の際は、最下部の "お問い合わせ" フォームよりお願い致します。

分析方法

その他の情報

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