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EAG >> News >> III-V族半導体デバイス開発と先進分析技術セミナー参加登録開始(10/24開催)

III-V族半導体デバイス開発と先進分析技術セミナー参加登録開始

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この度、三重大学の三宅先生と、弊社本社ラボの分析スペシャリストを講師にお招きし、技術セミナーを開催する運びとなりました。
本セミナーでは、最新の技術動向や分析技術に加え、日本未発表の分析技術もご紹介予定です。

参加登録は専用ページよりお申し込みください。

⚫︎参加登録専用ページ
https://eurofins-21625909.hs-sites-na2.com/s020

皆様のお申し込みを心よりお待ちしております。

⚫︎セミナー概要
III-V族半導体デバイス開発と先進分析技術セミナー
2025年10月24日(金)10:30 - 16:00
参加費:無料(先着100名様)
会場:ステーションコンファレンス東京(東京駅直結会場)


⚫︎セミナーセッション(予定)
スペシャルゲスト
 三宅秀人(みやけひでと)先生のご講演
 国立大学法人 三重大学
  工学研究科 教授
  半導体・デジタル未来創造センター 半導体部門長
  一般社団法人 ワイドギャップ半導体学会 会長

USラボ / EAG Laboratories

  • 透過型電子顕微鏡分析セッション
  • 二次イオン質量分析セッション
  • 三次元アトムプローブセッション