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研究開発・品質管理に直結するアプリケーションノート、さらに分析データの利便性を高める処理用ソフトウェアを無償で提供しています。専門エンジニアの知見が詰まった技術資料や、解析効率を向上させる専用ツールを自由にダウンロード可能です。研究開発のスピードアップとデータ解釈の精度向上を強力に支援します。

アプリケーションノート（分析事例）


TEM/STEM A materials analysis study into FinFET technology advancement: 22 nm to 7 nm	3D-APT アトムプローブトモグラフィ（APT）	PCOR-SIMS PCOR-SIMSによる極低エネルギーBoronイオン注入試料の熱処理後の特性評価	GDMS 太陽光発電 (PV) グレードの CdTe/CdS 粉末の元素測定

SMART Chart 関連


SMART Chartと分析深さ	SMART Chartを活用しよう『分析範囲と適切な分析手法の選択』

データ処理ソフトウェア

SIMSview｜SIMS Data Processing Software

SIMSviewは、EAGが開発したSIMSデータ専用の処理ソフトウェアです。分析結果ファイル（*.svw）を直接読み込み、プロット表示や深さ・濃度軸の再計算、重ね書きなどの高度なデータ編集を自在に行えます。レポート作成の効率化と、SIMSデータの直感的な解析・解釈を強力に支援する無償ツールです。

XY軸のスケールとデプスプロファイルの色の変更
テキストの追加
複数のプロファイルの重ね合わせ表示
重ね合わせた間隔の調整、デプスプロファイルの比較表示
線量、面密度、接合深度の計算
平均濃度の計算
層厚の計算
深さ分解能の決定

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SIMSviewの操作方法を基礎から学べる個別説明会を随時開催しています。データプロット、軸調整、重ね書き、複数試料の比較など、実務で役立つ解析テクニックを専門エンジニアが丁寧に解説します。SIMSデータの解釈を深め、レポート作成を効率化したい方に最適です。お問合せフォームより、お気軽にお申し込みください。

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