材料分析｜ユーロフィンEAG

半導体や高純度材料の分析に最適！「Smart CHART」なら、SIMSやGDMS等、各種手法の分析領域と検出下限の相関が一目で把握可能です。最適な手法選定から技術相談、無償セミナーの依頼まで、専門スタッフが迅速に回答いたします。

ユーロフィンEAGは半導体・高純度材料のスペシャリストです。世界最高水準のSIMS、TEM/STEM、GDMSを中心に、100種類以上の分析・試験に対応。デバイスの構造解析から材料評価、不純物特定まで開発の課題を迅速かつ正確に解決します。

TEM/STEMやFIB-SEM、3D-APT等の高度な顕微鏡技術により、半導体の微小領域・形態分析を網羅。ナノレベルの高分解能・組成分析で、デバイスの構造解析や欠陥調査を強力にサポートします。

水素を含む全元素を超高感度で分析するSIMSに加え、独自技術PCOR-SIMSを展開。化合物半導体の正確な組成・不純物評価を実現します。半導体デバイスの構造解析から材料評価までトータルに支援します。

XPSやAESを駆使し、半導体ウエハーの最表面から深さ方向、有機・金属汚染まで徹底評価。元素の結合状態や結晶構造をナノレベルで解明し、歩留まり向上の鍵となる界面制御やコンタミ分析を強力に支援します。

GDMS、IGA、ICP-MS/OESを駆使し、高純度半導体材料や金属、液体の微量不純物を全元素網羅。次世代デバイスの品質を左右する高度な材料評価を、圧倒的な分析精度で支援します。

半導体や電子部品の非破壊解析でお困りですか？X線CTや超音波を駆使し、内部構造の可視化や不具合箇所の特定から原因究明まで一貫サポートいたします。

半導体デバイス、エレクトロニクスデバイス/製品の信頼性評価・環境試験を実施いたします。国内ラボには100台以上の恒温恒湿層・温度サイクル試験層など各種試験層を多数取り揃えています。

半導体や高純度材料の分析・評価でお困りではありませんか？SIMSやTEM、GDMS等の手法選定、費用、納期のご相談から、無償技術セミナーの開催依頼まで、専門スタッフが迅速に回答いたします。些細なことでもお気軽にお問い合わせください。

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