第54回 信頼性･保全性･安全性シンポジウム出展 | ポゴピンの短寿命化の事例紹介
第54回 信頼性･保全性･安全性シンポジウムにて、弊社は テーマ『ポゴピンの短寿命化の事例紹介』にて出展いたします。
出展概要
|
主催 |
一般財団法人日本科学技術連盟 |
| 弊社講演日時 | 2025年7月17日（木） 14:00～14:30 |
| 会場 | A会場 Session１『信頼性試験』 |
| テーマ | 【事例報告】ポゴピンの短寿命化の事例紹介 |
| 発表者 | 品質技術事業部 北林 朋希 |
内容
ポゴピンの内部に発生した腐食（脱亜鉛腐食）要因により、接触不良に至った市場障害にフォーカスして、短寿命となりうる要因を導いた事例について発表します。また、FTAで抽出した4つの着目点（腐食性物質、温度／湿度、傷(摺動)、ピンホール）で新たなサンプルに対して検証を行った結果、ギ酸イオンと硫酸イオンが添加された状態且つ傷（摺動）が有るパターンの方がより腐食が促進されました。検証結果から得られた接触不良メカニズムを推定します。
詳細は下記サイトをご確認ください。
