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特殊分析

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我們主要使用非破壞性分析方法,來分析產品或製造過程中發現的異物。我們以高效的方式分析客戶的樣本,以便在最短的時間內調查出可能造成異物污染的原因。若您時程緊急,請隨時與我們聯繫。此外,我們也會針對不同類型的異物,提出最適合的分析方法。

我們也可以利用非破壞性的分析技術如表面成像等,協助配方的開發。

分析設備

  • Digital microscope
  • X-ray fluorescence spectrometer (micro-XRF)
  • Scanning electron microscope / energy dispersive  X-ray micro-analyzer (SEM-EDX)
  • FT-IR microscope
  • Laser Raman microscope
  • Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS)
  • X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
  • Confocal microscope
  • 3D X-Ray microscopic CT scanner
  • X-ray diffractometer (XRD)

分析範例