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配方开发支持

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分析样品 1:涂覆颗粒 (coated particle) 中涂层 (coating layer) 的状态

在一些药物配方中,涂有涂层的颗粒也许是作为溶析控制、安定等目的。我们可以利用 CT-X 射线的扫描做内部的检查,来研究涂层的状态 (厚度、均匀性等)。此外,借由 TOF-SIMS 分析涂覆颗粒的横断面,我们可以观察每种成分如何分布在涂层或核心颗粒中

分析样品 2:片剂表面的拉曼成像

雷射拉曼显微镜可以对片剂的成分 (活性药物成分、赋形剂、润滑剂等) 进行成像。拉曼成像图显示了每种成分颗粒的大小与分布状态