シロキサン分析

実績多数！ご希望の分析方法で報告させて頂きます。

シリコン中の低分子環状シロキサンが電子部品に接点不良などの不具合を起こす可能性がある事から、電機、自動車メーカー様よりシロキサン分析のご依頼を頂いています。長年の分析ノウハウと最新機器を活かしで価格、納期等お客様のご要望にお応えします。L2～など直鎖構造のシロキサンにも対応可能です。まずはお問い合わせ下さい。

●目的に応じて様々な分析方法に対応します。

・測定対象
環状シロキサン3～6量体　（D3～D6）
環状シロキサン3～10量体　（D3～D10）
環状シロキサン3～20量体　（D3～D20）

・分析方法