ユーロフィン分析科学研究所株式会社 >> サービス >> 特殊分析

特殊分析

Sidebar Image

非破壊分析を中心とした分析手法を用いて,製品や製造工程中で発見された異物の分析を実施します。異物発生原因の早急な究明につなげられるよう迅速に分析及び解析を行います。至急分析にも対応しております。ご希望の納期につきましては弊社窓口にご相談ください。また、異物の種類に応じた適切な分析手法の提案もさせていただきます。
さらに、表面イメージングなどの非破壊分析技術により、お客様の製剤開発サポートを実施します。

分析機器

  • デジタルマイクロスコープ
  • エネルギー分散型微小部蛍光X線分析装置(Micro-XRF)
  • 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型X線分光装置  (SEM-EDX)
  • FT-IR顕微鏡
  • レーザーラマン顕微鏡
  • 飛行時間型二次イオン質量分析装置(TOF-SIMS)
  • X線光電子分光分析装置(XPS)
  • コンフォーカル(共焦点)顕微鏡
  • 三次元計測X線CT装置
  • X線回折装置(XRD)

分析事例紹介